INTECO a travez de INTERCOVAMEX ofrece equipos de la compañía suiza CSM INSTRUMENTS cual se especializa en la fabricación de instrumentos para pruebas mecánicas de recubrimientos y de superficies.

DUREZA y ELASTICIDAD: Los Microindentadores, Nanoidentadores y Utra-Nanoidentadores de CSM INSTRUMENTS permiten medir la estos parámetros de manera dinámica midiendo la profundidad de la penetración del indentador en vivo durante la medición de la dureza. El diseño especial de CSM permite limitar los efectos térmicos y obtener resultados más confiables. Un microscopio AFM se puede acoplar a estos sistemas.

ADERENCIA: El modelo Revetex realiza ralladuras (sratch) controladas sobre la superficies. El operador observa en vivo las diversas deformaciones de la superficie gracias al microscopio óptico acoplado al aparato. El modelo Revetex-Xpress esta principalmente dedicado a control de calidad. Permite tomar muchos datos de ralladura de manera sencilla. Los efectos de las ralladuras se observan después en un microscopio externo. Los modelos "Nanoscratch Tester" y "Microscratch Tester" permiten agregar un microscopio AFM además del microscopio óptico para poder observar las huellas con resolución manométrica.

USURA y FATIGUA: Estos parámetros se miden en un tribómetro cual ejerce una presión bien definida sobre la superficie de la muestra en rotación o en movimiento linear a una frecuencia ajustable. Un sensor mide la fricción de la sonda sobre la superficie. CSM propone la más amplia gama de tribómetros para trabajar en alto vacío, a altas temperaturas (1000 C), en líquidos.

ESPESOR: El modelo Calotest erosiona la superficie de la muestra con una bola en rotación y con polvo abrasivo. La huella se observa después debajo de un microscopio convencional externo para pedir el espesor de las películas del recubrimiento.

SISTEMA MULTIPRUEBAS: El modelo "OPEN PLATFORM" permite montar 4 cabezas de medición en un mismo aparato. La muestra colocada sobre una meza XY motorizada se desplaza sucesivamente debajo de una nanoidenter, un scratcher, un microscopio óptico y un microscopio de fuerza atómica AFM. El sistema es modular y se puede adquirir inicialmente con solo una cabeza.