ANALISIS ELEMENTAL

XRF: Se ofrece el microscopio de FLUORESCENCIA DE RAYOS X modelo XGT serie 5000 de HORIBA. Este microscopio único en el mercado permite el análisis elemental por XRF de muestras sólidas o biológicas a la presión atmosférica y con resolución lateral de 10 micrones. También permite hacer imágenes ópticas e imágenes en transmisión.

WDS: La técnica de dispersión energética de longitud de onda se utiliza en las microsondas electrónicas de CAMECA cuales permiten hacer el análisis elemental de muestras sólidas con alta precisión y con nivele de concentración del orden del ppm. El haz de electrones es similar al haz de un microscopio electrónico de barrido (algunos manómetros de resolución) pero con más alta estabilidad para tener mediciones elementales muy precisas. Los espectrómetros WDS (entre 3 y 5 en general) analizan los rayos X en función de su longitud de onda. La alta precisión de la medición de concentración elemental hace de este estas microsondas un instrumento indispensable en geología y metalurgia.

ANALISIS DE SUPERFICIES

SIMS: La espectrometría de masa de iones secundarios permite ver concentración elemental (ppb) en películas muy delgadas como las utilizadas en semiconductores y con resolución espacial manométrica. CAMECA el líder mundial de instrumentos aplicando esta técnica ofrece la gama más amplia de equipos. Todos trabajan en ultra alto vacío.

AUGER, XPS: Estas técnicas utilizan haces de electrones o rayo X para el análisis de electrones emitidos por una superficie en ultra alto vacío. Los niveles de concentraciones detectados usualmente son del nivel de ppm con resolución espacial manométrica.